本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì)，使用大探針頭，增加探針和樣品之間的接觸面，適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試，需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的，訂購(gòu)前可咨詢我們。
四探針直流低電阻測(cè)試儀 （產(chǎn)品型號(hào)：KV-FPB-SP02）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì)，使用大探針頭，增加探針和樣品之間的接觸面，適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試，需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的，訂購(gòu)前可咨詢我們。
四探針頭類(lèi)型：直線四探針
四探針頭探針材質(zhì)：磷銅
四探針頭探針間距：2mm
四探針直流低電阻測(cè)試儀 （產(chǎn)品型號(hào)：KV-FPB-SP02）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì)，使用大探針頭，增加探針和樣品之間的接觸面，適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試，需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的，訂購(gòu)前可咨詢我們。
四探針頭類(lèi)型：直線四探針
四探針頭探針材質(zhì)：磷銅
四探針頭探針間距：2mm
四探針直流低電阻測(cè)試儀 （產(chǎn)品型號(hào)：KV-FPB-SP02）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì)，使用大探針頭，增加探針和樣品之間的接觸面，適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試，需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的，訂購(gòu)前可咨詢我們。
四探針頭類(lèi)型：直線四探針
四探針頭探針材質(zhì)：磷銅
四探針頭探針間距：2mm
四探針直流低電阻測(cè)試儀 （產(chǎn)品型號(hào)：KV-FPB-SP02）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì)，使用大探針頭，增加探針和樣品之間的接觸面，適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試，需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的，訂購(gòu)前可咨詢我們。
四探針頭類(lèi)型：直線四探針
四探針頭探針材質(zhì)：磷銅
四探針頭探針間距：2mm
