本測試儀由珠海凱為儀器設(shè)備有限公司研發(fā)設(shè)計，采用珠海凱為自主研發(fā)的四探針探頭，匹配國內(nèi)高精度的直流低電阻測試儀，適合實驗室 用于ITO導(dǎo)電玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃、AZO導(dǎo)電玻璃、柔性ITO導(dǎo)電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導(dǎo)體膜層和半導(dǎo)體膜層的方塊電阻、電阻率 的測試使用
四探針直流低電阻測試儀
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
KV-FPB-SPX
本測試儀由珠海凱為儀器設(shè)備有限公司研發(fā)設(shè)計，采用珠海凱為自主研發(fā)的四探針探頭，匹配國內(nèi)高精度的直流低電阻測試儀，適合實驗室
用于ITO導(dǎo)電玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃、AZO導(dǎo)電玻璃、柔性ITO導(dǎo)電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導(dǎo)體膜層和半導(dǎo)體膜層的方塊電阻、電阻率
的測試使用 (注：本產(chǎn)品使用小探針頭，不適合導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片及電池片的測試，需要用來測試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、
碳漿膜等材料的阻值的，訂購前請咨詢我們)。
探針中心距：2mm
探針頭直徑：0.74mm
探針探頭類型：直線四探針 （探針可更換）
探針材質(zhì)：鍍金銅
四探針直流低電阻測試儀
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
KV-FPB-SPX
本測試儀由珠海凱為儀器設(shè)備有限公司研發(fā)設(shè)計，采用珠海凱為自主研發(fā)的四探針探頭，匹配國內(nèi)高精度的直流低電阻測試儀，適合實驗室
用于ITO導(dǎo)電玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃、AZO導(dǎo)電玻璃、柔性ITO導(dǎo)電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導(dǎo)體膜層和半導(dǎo)體膜層的方塊電阻、電阻率
的測試使用 (注：本產(chǎn)品使用小探針頭，不適合導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片及電池片的測試，需要用來測試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、
碳漿膜等材料的阻值的，訂購前請咨詢我們)。
探針中心距：2mm
探針頭直徑：0.74mm
探針探頭類型：直線四探針
探針材質(zhì)：鍍金銅
四探針直流低電阻測試儀
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
KV-FPB-SPX
本測試儀由珠海凱為儀器設(shè)備有限公司研發(fā)設(shè)計，采用珠海凱為自主研發(fā)的四探針探頭，匹配國內(nèi)高精度的直流低電阻測試儀，適合實驗室
用于ITO導(dǎo)電玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃、AZO導(dǎo)電玻璃、柔性ITO導(dǎo)電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導(dǎo)體膜層和半導(dǎo)體膜層的方塊電阻、電阻率
的測試使用 (注：本產(chǎn)品使用小探針頭，不適合導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片及電池片的測試，需要用來測試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、
碳漿膜等材料的阻值的，訂購前請咨詢我們)。
探針中心距：2mm
探針頭直徑：0.74mm
探針探頭類型：直線四探針 （探針可更換）
探針材質(zhì)：鍍金銅
四探針直流低電阻測試儀
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
KV-FPB-SPX
本測試儀由珠海凱為儀器設(shè)備有限公司研發(fā)設(shè)計，采用珠海凱為自主研發(fā)的四探針探頭，匹配國內(nèi)高精度的直流低電阻測試儀，適合實驗室
用于ITO導(dǎo)電玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃、AZO導(dǎo)電玻璃、柔性ITO導(dǎo)電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導(dǎo)體膜層和半導(dǎo)體膜層的方塊電阻、電阻率
的測試使用 (注：本產(chǎn)品使用小探針頭，不適合導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片及電池片的測試，需要用來測試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、
碳漿膜等材料的阻值的，訂購前請咨詢我們)。
探針中心距：2mm
探針頭直徑：0.74mm
探針探頭類型：直線四探針
探針材質(zhì)：鍍金銅
